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　　微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀廠家談運(yùn)行中的電力設(shè)備其溫度隨周圍環(huán)境變化，其絕緣電阻也是隨溫度而變化的。一般情況下，絕緣電阻隨溫度升高而降低。原因在于溫度升高時(shí)，絕緣介質(zhì)內(nèi)部離子、分子運(yùn)動(dòng)加劇，絕緣物內(nèi)的水分及其中含有的雜質(zhì)、鹽分等物質(zhì)也呈擴(kuò)散趨勢(shì)，使電導(dǎo)增加，絕緣電阻降低。這與導(dǎo)體的電阻隨溫度的變化是不一樣的。不同的電力設(shè)備及不同材料制成的電力設(shè)備，其絕緣電阻隨溫度的變化也不一樣，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)童也很難保證在*近似的溫度下進(jìn)行。實(shí)際測(cè)量絕緣電阻時(shí)，必須記錄試驗(yàn)溫度，而且盡可能在相近溫度下進(jìn)行測(cè)量，以避免溫度換算引起的誤差。

　　二、濕度和電力設(shè)備表面臟污的影響

　　微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀分析電力設(shè)備周圍環(huán)境濕度的變化及空氣污染造成的表面臟污對(duì)絕緣電阻影響很大?？諝庀鄬?duì)濕度增大時(shí)，絕緣物表面吸附許多水分，使表面電導(dǎo)率增加，絕緣電阻降低。當(dāng)絕緣物表面形成連通水膜時(shí)，絕緣電阻更低。電力設(shè)備的表面臟污也使設(shè)備表面電阻大大降低，絕緣電阻顯著下降。根據(jù)以上兩種情況，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量絕緣電阻時(shí)都必須用屏蔽環(huán)消除表面泄漏電流的影響或烘干、清擦干凈設(shè)備表面，以得到真實(shí)的測(cè)量值。

　　三、殘余電荷的影響

　　微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀對(duì)大容量設(shè)備運(yùn)行中的殘余電荷或試驗(yàn)中形成的殘余電荷未*放盡，會(huì)造成絕緣電阻偏大或偏小，引起測(cè)得的絕緣電阻不真實(shí)。殘余電荷的極性與微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀的極性相同時(shí)，測(cè)得的絕緣電阻將比真實(shí)值增大;殘余電荷的極性與微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀的極性相反時(shí)，測(cè)得的絕緣電阻將比真實(shí)值減小。原因在于極性相同時(shí)，由于同性相斥，微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀輸出較少電荷;極性相反時(shí)，微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀要輸出更多電荷去中和殘余電荷。為消除殘余電荷的影響，測(cè)量絕緣電阻前必須充分接地放電，重復(fù)側(cè)量中也應(yīng)充分放電，大容量設(shè)備應(yīng)至少放電5min。